全自动介质损耗测量仪
什么材料介质损耗低？
什么材料介质损耗低？
光纤。光纤信号衰减很小，不使用中继器就可以实现6-8公里范围内的高速数据传输；不受外界电磁干扰和噪声的影响，在长距离高速传输中能保持较低的误码率。
光纤一端的发送装置使用发光二极管(L
交流电气设备的电介质损耗与哪些因素？
1.电气设备的绝缘部分应绝缘，内部不应有电流流动。如果潮湿时内部有少量电流流过，这个电流会在绝缘介质中产生热量，这部分损耗就是介质损耗。
2.介质损耗不同于介质损耗角正切，影响介质损耗的因素很多。介质损耗与绝缘材料、制造质量、环境温度、运行温度、绝缘材料的劣化程度、电源的电能质量、负载电流、电源电压有关。
介质损耗与频率的关系？
一般由三部分组成:
1.传导性损失。是电流介质泄漏造成的。
2、偏振损耗。由于偶极子分子在介质中的重复排列引起的相互摩擦，在三明治介质中，边界上电荷周期的变化引起的损耗也是极化损耗。
3，自由损耗。大气中的电晕损失以及液体和固体中的局部放电造成的损失。影响介质损耗的主要因素有:(1)频率。当温度不变时，总损耗在低频范围内几乎与频率无关；在高频区，介电损耗值很大。因此，高频时应使用介电损耗小的介质。(2)温度。温度对介质损耗有很大影响。在低温区，介电损耗随着温度的升高而增加，在某一温度时达到峰值。当温度继续升高时，介电损耗会降低。但如果温度继续升高，介质损耗降低到一定值后拐点会急剧增大，容易导致介质击穿。(3)湿度。介质吸湿后，泄漏电阻降低，泄漏电流增大，介质损耗明显增加。(4)场强。如果介质中存在气泡或气隙，当外加电压上升到一定值时，气泡或气隙中会产生自由放电，介质损耗会显著增加。
介电损耗和电导率关系？
介电常数的虚部与介质的电导率有关，电导率越大，损耗的虚部越大。
εε; iσ/ω
ε ;是真实的介电系数
σ是电介质电导率。
ω是电磁波的角频率。
经典的描述是:介电常数是一个复数，实部代表介电常数，虚部代表损耗，虚部与电导率有关。虚部越大，电导率越大，绝缘性能越差。但是，它是绝缘体，是一种介电材料。导电性等于击穿。
技术参数:
1.蜕变能措施
A.q值的测量范围:2 ~ 1023。
B q档分级:30，100，300，1000，自动档或手动档。
C.名义误差
频率范围(100 khz ~ 10 MHz):频率范围(10 MHz ~ 160 MHz):
固有误差:≤满值的5% 2%固有误差:≤满值的6% 2%。
工作误差:≤满量程值的7% 2%;工作误差:≤满量程值的8% 2%。
2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH
3.电容测量:1~205
主电容调节范围:18 ~ 220 pf
精度:1.5pF150pF以下；超过150 pf±1%
注意:对于大于直接测量范围的电容测量，请参阅背面的说明。
4.信号源的频率覆盖
频率范围是ch 1 echon 4-@ .com 0.1 ~ 0.999999 MHz，CH2: 1 ~ 9.99999 MHz，
CH3:10~99.9999MHz，CH1 :100~160MHz，
5.Q合格指示预置功能:预置范围:5 ~ 1000。
6.B型测试仪的正常工作条件
A.环境温度:0℃~ 40℃；
B.相对湿度:LT80 %；
C.电源:220伏22伏50赫兹2.5赫兹
7.其他人
A.功耗:25W左右；；
B.净重:7公斤左右；
C.外形尺寸:(长×宽×高)毫米:380× 132× 280。
GDAT的注意事项——高频/音频介电常数测试仪的测试
A.该仪器应水平放置；
B.如果需要精确测量，请打开电源预热30分钟；
C.调整主调谐电容或主调谐电容数字开关时，请在接近谐振点时缓慢调整；
D.被测部件与测试电路端子之间的接线应尽可能短，足够粗，接触良好可靠，以减少因接线的电阻和分布参数引起的测量误差；
E.被测零件不应直接放在面板顶部，距离顶部一厘米以上。如有必要，可加垫聚苯乙烯等低损耗绝缘材料。
F.手不要靠近标本，以免人体感应造成测量误差。对于屏蔽样品，屏蔽罩应连接到低电位端的端子。
影响介电性能的因素
频率、温度、湿度和电强度对介电性能的影响将在下面讨论。
1频率
因为只有少数材料如应时玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯具有宽频带特性。r和tan几乎是常数，用作工程介电材料。然而，一般介质材料的介质损耗因数和介电常数必须在所用频率下测量。
介电常数和介质损耗因子的变化是由介质极引起的。重要的变化是极性分子引起的偶极极化和材料不均匀性引起的界面极化。
2温度
损耗指数在某一频率下可能具有较大的值，这与介电材料的温度有关。介电损耗因数和介电常数的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下介电损耗指数的最大值的位置。
3湿度
极化程度随着水的吸收或介质材料表面水膜的形成而增加，从而导致介电常数、介质损耗因子和DC电导率的增加。因此，在测试前和测试过程中控制环境湿度至关重要。
:湿度的显著影响通常出现在1MHz以下和微波频率范围内。
4电场强度
当存在界面极化时，自由离子的数量随着电场强度的增加而增加，最大损耗指数的大小和位置也相应变化。
在较高频率下，只要介质中没有局部放电，介电常数和介质损耗因子与电场强度无关。
测量方法的选择:
高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量介电常数和介质损耗因数的方法可分为两种::零点指示法和谐振法。
零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。另一种方法可以用来测量介电常数和介质损耗因子，即调节回路的一个臂，使电桥在连接样品和不连接样品两种状态下保持平衡。通常回路中采用西林桥、变压器桥(即互感耦合比例臂桥)、并联T型网络。变压器桥式:的优点采用保护电极，无需任何额外附件或过多操作即可使用。它没有其他网络的缺点。
共振法适用于在10千赫到几百的频率范围内进行测量。这种方法是一种替代方法，常用的方法是电抗法。然而，这种方法不适合使用保护电极。